Author:
Abstract
Hızlandırılmış Yaşam Testleri (HYT), ürün veya sistemlerin tasarımı aşamasında güvenilirliklerini belirlemeye yarayan süreçlerdir. HYT’de belirli koşullar altında ürün veya sistem, bir veya daha fazla stres seviyesine maruz bırakılır. Uygulanan stres türleri genellikle sıcaklık, basınç, nem, voltaj, radyasyon veya bunlardan birkaçının bir araya gelmesiyle oluşur. Ürün veya sistemin normal kullanım koşullarında maruz kaldığı stres seviyesi genellikle artırılarak, kısa sürede tasarımdan kaynaklanan problemler ortaya çıkarılır. Bu çalışmada, Türkiye’de 32" ve üzeri LCD televizyon üreten bir firmanın HYT verilerinin parametreleri Arrhenius – Weibull modeli varsayımı En Çok Olabilirlik yöntemiyle tahmin edilmiştir. Tahmin edilen parametreler kullanılarak, ürün veya sistemin, normal kullanım koşullarındaki yaşam süresi ve arzu edilen bir zamandaki güvenilirliği elde edilmiştir. Yapılan analizler sonucunda, kullanılan yöntem ve modellerin pratikte kullanışlılıkları tartışılmıştır.
Keywords
Abstract
Accelerated Life Test (ALT) is the process of determining the reliability of product or systems in the phase of design. In ALT, under certain conditions, product or systems are subject to one or more stress levels. Applied stress types are usually temperature, pressure, humidity, voltage, radiation or with a combination of some of them. When the stress level under normal use conditions of the product or the system is usually accelerated, in a short time, problems arising from design are revealed. In this study, parameter of the ALT data of a company which produces 32” and upper LCD TV’s in Turkey, are estimated by Maximum Likelihood Estimation (MLE) method under assumption Arrhenius – Weibull model. By using estimated parameters, the lifetime of a product or system under normal use conditions and reliability in a desired time are obtained. As a result of the analysis, usefulness of these models and methods in practice are discussed.